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Detalles del libro
| Editorial | Springer |
|---|---|
| Edición | Softcover reprint of the original 1st ed. 1986(08/06/2013) | Páginas | 476 |
| Idioma | Inglés |
| ISBN | 9781475790290 |
| ISBN-10 | 1475790295 |
Detalles del libro
| Autor/es | Joseph Goldstein |
|---|---|
| Editorial | Springer |
| Edición | Softcover reprint of the original 1st ed. 1986(08/06/2013) | Páginas | 476 |
| Idioma | Inglés |
| ISBN | 9781475790290 |
| ISBN-10 | 1475790295 |
Otros libros:
Otra información de interés
- Portada: Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis de Springer
- Editorial: Springer | 08/06/2013
- Sinopsis:
El autor de Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, con isbn 978-1-4757-9029-0, es Joseph Goldstein, esta publicación tiene cuatrocientas setenta y seis páginas.
Resumen
Otros libros de Goldstein, Joseph son Mindfulness. Una Guía Práctica Para El Despertar Espiritual, Vipassana, Un Corazón Pleno De Paz, Universo Vecino, El, Un único Dharma, La Meditación Vipásana, Kinh Nghiệm Thiá»n Quã¡n y Ba Mæ°æ¡i Ngã y Thiá»n Quã¡n. Ver su bibliografía.